Вопросам метрологического обеспечения было посвящено 60-е заседание Научно-технической комиссии по метрологии (НТКМетр) Межгосударственного совета по стандартизации, метрологии и сертификации (МГС).

Участие в заседаниях приняли делегации национальных органов по метрологии Азербайджанской Республики, Республики Армения, Республики Беларусь, Республики Казахстан, Кыргызской Республики, Российской Федерации, Республики Таджикистан и Республики Узбекистан, а также Бюро по стандартам МГС. В состав российской делегации вошли представители подведомственных организаций Росстандарта – ФБУ «НИЦ Прикладной метрологии Ростест», ФГУП «ВНИИФТРИ», ФГБУ «ВНИИОФИ» и ФГУП «ВНИИМ им. Д.И. Менделеева».

В ходе пленарного заседания начальник отдела законодательной метрологии Росстандарта Илья Ершов рассказал о работе Росстандарта и его подведомственных организаций в области обеспечения единств измерений. Так, он поделился, что на данный момент эталонная база в России содержит 161 Государственный первичный эталон, в том числе ГПЭ единицы числа копий последовательности ДНК, созданный во ВНИИМ им. Д.И. Менделеева.

ВНИИМ им. Д.И. Менделеева представляет свой Научно-образовательный центр и Метрологический образовательный кластер Росстандарта в Санкт-Петербурге гостям и участникам Санкт-Петербургского международного научно-образовательного салона, конгресса «Профессиональное образование, наука и инновации в XXI веке», финала чемпионата «Профессионалы», а также экспонентам и посетителям международного форума-выставки «Российский промышленник».

Стенд Всероссийского научно-исследовательского института метрологии им. Д.И. Менделеева работает 26, 27 и 28 ноября 2025 г. в павильоне «Е» КВЦ «Экспофорум» в рамках городского дня открытых дверей учреждений высшего образования и среднего профессионального образования Санкт-Петербурга.

Раздел стенда и буклет, посвященный Научно-образовательному центру, представляют аспирантуру, докторантуру, повышение квалификации, и профессиональную переподготовку, которые можно пройти в Центре, а также рассказывают о кафедре «Теоретическая и прикладная метрология». Подробнее с информацией о Центре можно ознакомиться на сайте ВНИИМ.

Старшеклассникам адресованы часть стенда и буклет о специальностях высшего образования «Стандартизация и метрология» 27.03.01, «Метрологическое обеспечение вооружения и военной техники» 27.05.02, «Управление качеством» 27.03.02 и среднего профессионального образования «Метрологический контроль средств измерений» 27.02.06 и «Управление качеством продукции, процессов и услуг (по отраслям)» 27.02.072.

ВНИИМ им. Д.И. Менделеева совместно с Метрологической академией провели завершающее мероприятие в рамках программы празднования знаменательных юбилейных дат, отмечаемых научным сообществом в 2024 г.: 300-летия РАН, 225-летия со дня рождения А.Я. Купфера, 190-летия со дня рождения Д.И. Менделеева.

Торжественное заседание «Вклад Российской академии наук в развитие науки об измерениях. Академики и члены-корреспонденты РАН во ВНИИМ им. Д.И. Менделеева» прошло 25 ноября на территории Петропавловской крепости.

Заседание было посвящено выдающимся представителям РАН ХVIII–XXI веков. Среди них такие известные имена, как Леонард Эйлер, Михаил Ломоносов, Адольф Купфер, Генрих Вильд, Борис Якоби, Отто Струве, Дмитрий Менделеев, Дмитрий Коновалов, Александр Байков, Александр Иванов, Михаил Шателен, Анатолий Александров, Владимир Окрепилов. Деятельность многих из них была непосредственно связана с первым государственным метрологическим учреждением России – Депо образцовых мер и весов – Главной палатой мер и весов – Всероссийским научно-исследовательским институтом метрологии им. Д.И. Менделеева.

Представители Метрологической академии, ВНИИМ им. Д. И. Менделеева, Санкт-Петербургского отделения архива РАН, Главной геофизической обсерватории им. А.И. Воейкова, Свердловского областного краеведческого музея имени О.Е. Клера выступили с докладами о различных аспектах жизни и многогранной деятельности А. Купфера, первого ученого хранителя Депо образцовых мер и весов.