Новости института метрологии имени Д.И.Менделеева
Посешение ВНИИМ делегацией NIM (КНР)
ПОСЕЩЕНИЕ ВНИИМ ДЕЛЕГАЦИЕЙ NIM (КНР)
7-9 августа 2013 г наш институт посетила делегация Национального института метрологии Китая (NIM), возглавляемая директором NIM, д-ром Чжан Юйкуань (Zhang Yukuan). В состав делегации входили также г-жа Гао Вэй (Gao Wei), руководитель отдела международного сотрудничества и планирования НИОКР, д-р Гао Сытянь (Gao Sitian), руководитель отдела метрологии материалов и нанометрологии, д-р Фан Чжаньцзюнь (Fang Zhanjun), руководитель отдела времени и частоты, д-р Цюань Хуэймань (Quan Huiman), руководитель отдела стратегических исследований и д-р Ян Пин (Yang Ping), ведущий научный сотрудник отдела механики и акустики.
Цель визита - более подробное взаимное ознакомление с деятельностью наших Национальных метрологических институтов и подписание Меморандума о взаимопонимании (MoU) как основы для сотрудничества на ближайшие пять лет.
В ходе визита китайской делегации, которую принимали директор ВНИИМ Н.И.Ханов и его заместители Е.П.Кривцов и Ю.А.Кустиков, обсуждались направления и перспективные темы сотрудничества между нашими НМИ в соответствии с вновь подписанным Меморандумом.
Директор NIM выразил заинтересованность в будущем сотрудничестве с ВНИИМ в ряде областей измерений. Китайской делегации были переданы для дальнейшего рассмотрения соответствующие предложения ВНИИМ.
В ходе визита делегация NIM ознакомилась с работой нескольких лабораторий отдела физико-химических измерений а также лабораториями калориметрии, длины и силы. По окончании визита китайской делегации состоялась экскурсия в Мемориальный музей Д.И. Менделеева, во время которой Директор NIM расписался в Книге почетных посетителей.