Кафедра «Теоретическая и прикладная метрология»
Кафедра «Теоретическая и прикладная метрология» была организована в 2016 году на базе ФГУП "ВНИИМ им. Д.И. Менделеева" - ведущего отраслевого института в России в области обеспечения единства измерений.
Миссия кафедры
- Подготовка высококвалифицированных кадров на основе современных исследований мирового уровня в области обеспечения единства измерений с целью обеспечения конкурентных преимуществ ВНИИМ по приоритетным направлениям развития науки и технологий Российской Федерации.
Кафедра проводит подготовку аспирантов по направлению "12.06.01 Фотоника, приборостроение, оптические и биотехнические системы и технологии" по программам, имеющим следующую направленность:
-
05.11.01 Приборы и методы измерения по видам измерений
-
05.11.13 Приборы и методы контроля природной среды, веществ, материалов и изделий
-
05.11.15 Метрология и метрологическое обеспечение
В своей деятельности кафедра "Теоретическая и прикладная метрология" обеспечивает решение следующих задач:
-
организация и осуществление учебного процесса, его методическое обеспечение по профилю кафедры;
-
организация и проведение фундаментальных, поисковых и прикладных научных исследований и иных научных работ по профилю кафедры и проблемам системы многоуровневого профессионального образования;
-
обеспечение научного и учебно-методического сопровождения преподавания дисциплин и программ по профилю кафедры, внедрение в учебный процесс современных образовательных технологий;
-
формирование у обучающихся гражданской позиции, толерантного сознания, способности к труду и жизни в современных условиях, профилактики экстремизма;
-
сохранение и приумножение культурных и научных ценностей общества.
-
Заведующий кафедрой — Окрепилов Михаил Владимирович, доктор технических наук, заместитель генерального директора ФГУП «ВНИИМ им. Д.И. Менделеева»
Опубликовано: 05.09.2017, изменено: 26.10.2021
/ ⌂ / Деятельность / Образовательная деятельность / Кафедра «Теоретическая и прикладная метрология» /
