Кафедра Теоретическая и прикладная метрология

Кафедра "Теоретическая и прикладная метрология" была организована в 2016 году на базе ФГУП "ВНИИМ им. Д.И. Менделеева" - ведущего отраслевого института в России в области обеспечения единства измерений. Заведующий кафедрой - Михаил Владимирович Окрепилов, д.т.н., заместитель директора ФГУП «ВНИИМ им. Д.И.Менделеева».

Миссия кафедры

Подготовка высококвалифицированных кадров на основе современных исследований мирового уровня в области обеспечения единства измерений с целью обеспечения конкурентных преимуществ ВНИИМ по приоритетным направлениям развития науки и технологий Российской Федерации.

Кафедра проводит подготовку аспирантов по направлению "12.06.01 Фотоника, приборостроение, оптические и биотехнические системы и технологии" по программам, имеющим следующую направленность:

  • 05.11.01 Приборы и методы измерения по видам измерений

  • 05.11.13 Приборы и методы контроля природной среды, веществ, материалов и изделий

  • 05.11.15 Метрология и метрологическое обеспечение

В своей деятельности кафедра "Теоретическая и прикладная метрология" обеспечивает решение следующих задач:

  • организация и осуществление учебного процесса, его методическое обеспечение по профилю кафедры;

  • организация и проведение фундаментальных, поисковых и прикладных научных исследований и иных научных работ по профилю кафедры и проблемам системы многоуровневого профессионального образования;

  • обеспечение научного и учебно-методического сопровождения преподавания дисциплин и программ по профилю кафедры, внедрение в учебный процесс современных образовательных технологий;

  • формирование у обучающихся гражданской позиции, толерантного сознания, способности к труду и жизни в современных условиях, профилактики экстремизма;

  • сохранение и приумножение культурных и научных ценностей общества.